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發(fā)布時(shí)間:2012-12-13 |
產(chǎn)品型號(hào):Φ30-Φ300 |
產(chǎn)品編號(hào):SL026 |
瀏覽次數(shù):5444 |
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平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來(lái)測(cè)量被測(cè)量面的平面度。 平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以?xún)x器和量具的測(cè)量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件,例如,平面光學(xué)零件、高級(jí)平臺(tái)、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于計(jì)量單位、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。
平面平晶的技術(shù)參數(shù)(備注:特殊規(guī)格可根據(jù)客戶(hù)要求定做)
平面直徑d(mm) |
基本參數(shù) |
1級(jí) |
d范圍內(nèi) |
2/3d范圍內(nèi) |
30 45 60 |
0.03 |
---- |
80 100 150 |
0.05 |
0.03 |
200 250 300 |
0.08 0.1 0.15 |
0.05 0.05 0.09 | |
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